Comparateur à lecture optique (mesure d’épaisseurs)

  • Comparateur à lecture optique
(mesure d’épaisseurs)
  • Comparateur à lecture optique
(mesure d’épaisseurs)
  • Comparateur à lecture optique
(mesure d’épaisseurs)

N° d'inventaire 603.0580

Catégorie Mesure des angles, des longueurs, des distances et des élévations

Vitrine Cet instrument n'est pas en exposition

Constructeur S.I.P., Genève

Pays CH

Datation 1945 - 1960 (milieu XXe s.)

Dimensions H 370 mm (colonne) ø 200 mm (pied en fonte)

Comparateur à lecture optique, pour la mesure de différences d’épaisseur jusqu’à 20 mm, sur des objets d’épaisseur comprise entre 0 mm et plus de 100 mm; résolution 1 µm.
La table en acier poli est ajustable en hauteur, avec une vis micrométrique.
Le palpeur mobile (course 20 mm) repose avec une force constante sur la surface à mesurer; il est en forme de cône d’acier terminé par une surface en forme de calotte sphérique d’env. 1 mm de rayon. Le déplacement vertical du palpeur fait défiler dans l’oculaire une graduation en mm.
L’échelle mobile apparaissant en bas de l’oculaire (10 traits, un tous les 100µm) est actionnée par le tambour gradué de 0 à 100; un déplacement vertical de 100 µm correspond à un tour du tambour, donc une division correspond à 1 µm.

Usage principal
Laboratoire

Etat de conservation
En état de fonctionnement

  • Informations supplémentaires

    Inscriptions
    “Société Genevoise pour la construction d’instruments de physique Genève”

    Remarques et commentaires
    Réglage en hauteur par crémaillère sur la colonne, avec blocage : course 180 mm.
    Plaque de base de référence en acier poli, ø 50 mm; réglage en hauteur par vis micrométrique, avec blocage : course 4,5 mm
    Eclairage latéral par lampe à incandescence 8 V, avec filtre vert

    Etait utilisé au Laboratoire de recherches nucléaires, peut-être pour mesurer l’épaisseur des émulsions photographiques nucléaires, dans les années 1950 - 1960.

    Appareil peut-être inspiré de l’Optimètre de Carl Zeiss Jena, lequel serait lui-même construit sur la base d’un brevet américain de 1928.

    Bibliographie
    — U.S. Patent No 1’655’386 granted on Jan. 3, 1928 to Robert Craig, for an “Apparatus for measuring space dimensions of objects”.